美国Pentagon QIII ST SM SX表面粒子计数器理化分析仪

QIII表面微粒子计数器 表面洁净分析仪

表面尘埃粒子理化分析仪 0.1-5um

美国PentagonTechnologiesQIII是一款用于测量和检测机表面微粒子(SPD)的精密仪器，它采用日前*先进的技术来实现量测的*性和机台的稳定性。人的肉眼很难看清直径在100um以下的粒子，这些粒子会快速沉降，逃避常规的空气检测从而聚积在关键表面或产品上，从而减少产品的良率及降低产品的稳定性，QIIIST表面粒子检测器测量（0.1~5um）的粒子，对于生产环境的控制，提升产品的良率都起到了很大的作用，能够帮助企业更快捷的实现数据化管理。

优势

• 快速测量表面颗粒

• 可以帮忙控制机台产品上的颗粒物从而提高产量

• 通过快速识别粒子源，减少故障排除时间

• 可以监测物料，来料，以及Parts上的Particle

• 减少PM的周期

• 符合 ISO 14644-9表面粒子操作规范

• 减少粒子相关故障